【美研發 電子電路可自行修復】
中央社╱中央社 2011-12-22 23:11
(中央社台北22日電)美國伊利諾大學(University of Illinois)一個研究團隊已成功製造能自行修復的電子電路。
這項21世紀的概念,可延長電子裝置和電池的使用壽命。
科技新聞網站www.sci-tech-today.com報導,這個研究團隊共同主持人索托斯(Nancy Sottos)表示,軍機或太空梭上「數哩長的電導線」如果斷裂,自動修復技術能即時處理,不必人力介入。
這項技術的另一個優點是很精準,負責修復的微膠囊只需要在斷裂的點上修復即可,不必檢查整條電路。
這個研究團隊之前製造出能自行修復的聚合物,現在把類似的方法用在電路上。
研究人員把直徑小到10微米(micron)的微膠囊放在金色電路線之上,當電路斷了,微膠囊會自動破裂並放出會修復斷裂點的液態金屬。
研究論文發表在「先進材料」(Advanced Materials)期刊。
研究人員表示,斷裂大概只持續100微秒(microsecond),自行修復就已完成。
研究團隊另一位共同主持人、航空太空工程教授懷特(Scott White)在伊大發布的影片中說:「因為動作太快,所以看不到。需要特別裝置才能測出斷裂發生,還有修復過程。」
這個團隊表示,在測試中這項技術能將90%的樣本,回復到原先99%的導電性。
材料科學與工程教授、團隊共同主持人索托斯告訴新聞媒體,這項技術的應用範圍極廣,尤其是對任務很關鍵的系統。
她強調,多層積體電路和電池不能拆開修理,目前較有效率的作法是直接換掉電路或電池,但是這樣卻較花時間與金錢。
有了自行修復技術,裝置和電池或許能用得更久。
團隊成員、化學教授摩爾(Jeffrey Moore)在聲明中表示,這項技術使用的方法「簡化了這個系統」。
他表示,它不採取建造備用多餘電路或偵測感應系統的方式,「這項材料設計來自己解決問題」。
未來目標之一是用微膠囊控制導電性。研究人員尤其想把這項技術應用到電池上,改善安全性與使用期限。
英國廣播公司新聞網(BBC News)報導,團隊也表示,技術可用於消費性電子裝置。
懷特舉手機按鈕為例,反覆使用可能使按鈕後面的電路系統斷裂,如果使用自行修復系統,則能延長手機使用年限。(譯者:中央社郭中翰)1001222。
引用:http://n.yam.com/cna/computer/201112/20111222208888.html |