【班點干涉術】
<P align=center><STRONG><FONT size=5>【<FONT color=red>班點干涉術</FONT>】</FONT></STRONG></P> <P><STRONG>speckleinterferometry</STRONG></P><P><STRONG></STRONG> </P>
<P><STRONG>【辭書名稱】力學名詞辭典</STRONG></P>
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<P><STRONG>又稱雙光束斑點干涉法；</STRONG></P>
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<P><STRONG>其原理及安排方式與斑點照相術相仿。</STRONG></P>
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<P><STRONG>惟一的差別乃是將同調光源（如雷射光）分成兩道光來照射物體，主要是利用兩道光線光程差對物體面外變形的敏銳度，未達到量測物體相關的面外變形量。</STRONG></P>
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<P><STRONG>所以，此法可量測物體表面x,y,z方向分量、位移導數、物體面外振動節線位置及表面等高線等，其靈敏度與全像攝影干涉術相仿。</STRONG></P>
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<P><STRONG>此法也是一種非破壞檢測方法，且設備簡易。</STRONG></P>
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<P><STRONG></STRONG> </P>轉自:http://edic.nict.gov.tw/cgi-bin/tudic/gsweb.cgi?o=ddictionary
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