【雙轉點水準測量】
<P align=center><STRONG><FONT size=5>【<FONT color=red>雙轉點水準測量</FONT>】</FONT></STRONG></P> <P><STRONG>英語翻譯：bilateralleveling,two-turningpointleveling</STRONG></P><P><STRONG></STRONG> </P>
<P><STRONG>【辭書名稱】測繪學辭典</STRONG></P>
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<P><STRONG>使用兩個轉點及兩支標尺所實施之水準測量稱為雙轉點水準測量。</STRONG></P>
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<P><STRONG>如圖所示：整置水準儀於C1，對BMA之標尺先後兩次後視，得兩標尺讀數。</STRONG></P>
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<P><STRONG>選用不同高度之兩轉點TP1L及TP1H，分別對之行前視，亦得兩標尺讀數。</STRONG></P>
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<P><STRONG>按公式：BM＋BS＝HI，分別相加得C1之HI1（視線高），如觀測無誤，兩個HI1之數據據應相同（或在誤差限界以內），可資檢核。</STRONG></P>
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<P><STRONG>再由HI－FS＝ELV（高程），求得TP1L及TP1H之高程。</STRONG></P>
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<P><STRONG>同法繼續進行，得HI2……等，以迄終點。</STRONG></P>
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<P><STRONG>此法之優點在於觀測途中能隨時檢核不同標尺讀數所求得之HI是否相同，對於無法閉合於原點或另一水準點之開放式水準測量特別有用。</STRONG></P>
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<P><STRONG></STRONG> </P>轉自:http://edic.nict.gov.tw/cgi-bin/tudic/gsweb.cgi?o=ddictionary
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